PADOVANI, Andrea
PADOVANI, Andrea
Dipartimento di Ingegneria (attivo dal 01/01/1997 al 30/09/2012)
Dielectric reliability for future logic and Non-Volatile Memory applications: a statistical simulation analysis approach
file con accesso da definire2007 Padovani, Andrea; L., Larcher; Chimenton, Andrea; P., Pavan; Olivo, Piero
Hole Distributions in Erased NROM Devices: Profiling Method and Effects on Reliability
file con accesso da definire2008 Padovani, Andrea; L., Larcher; P., Pavan
Hole Distributions in NROM Devices: Profiling Technique and Correlation to Memory Retention
file con accesso da definire2007 Padovani, Andrea; L., Larcher; P., Pavan
Id-Vgs Based Tools to Profile Charge Distributions on NROM Memory Devices
file con accesso da definire2007 Padovani, Andrea; L., Larcher; P., Pavan; L., Avital; I., Bloom; B., Eitan
MODELING AND RELIABILITY OF INNOVATIVE FLASH MEMORIES
2009 Padovani, Andrea
Modeling NAND Flash memories for circuit simulations
file con accesso da definire2007 L., Larcher; Padovani, Andrea; I., Rimmaudo; P., Pavan; A., Calderoni; G., Molteni; F., Gattel; P., Fantini
Monte-Carlo Simulations of Flash Memory Array Retention
file con accesso da definire2007 Padovani, Andrea; L., Larcher; Chimenton, Andrea; P., Pavan
Profiling charge distributions in NROM devices
file con accesso da definire2006 Padovani, Andrea; L., Larcher; P., Pavan
Statistical Methodologies for Integrated Circuits Design
file con accesso da definire2007 Padovani, Andrea; Chimenton, Andrea; Olivo, Piero; Fantini, P; Vendrame, L; Mennillo, S.
Temperature Monitor: a New Tool to Profile Charge Distribution in NROM Memory Devices
file con accesso da definire2006 L., Avital; Padovani, Andrea; L., Larcher; I., Bloom; R., Arie; P., Pavan; B., Eitan
| Titolo | Data di pubblicazione | Autore(i) | File |
|---|---|---|---|
| Dielectric reliability for future logic and Non-Volatile Memory applications: a statistical simulation analysis approach | 2007 | Padovani, Andrea; L., Larcher; Chimenton, Andrea; P., Pavan; Olivo, Piero | file con accesso da definire |
| Hole Distributions in Erased NROM Devices: Profiling Method and Effects on Reliability | 2008 | Padovani, Andrea; L., Larcher; P., Pavan | file con accesso da definire |
| Hole Distributions in NROM Devices: Profiling Technique and Correlation to Memory Retention | 2007 | Padovani, Andrea; L., Larcher; P., Pavan | file con accesso da definire |
| Id-Vgs Based Tools to Profile Charge Distributions on NROM Memory Devices | 2007 | Padovani, Andrea; L., Larcher; P., Pavan; L., Avital; I., Bloom; B., Eitan | file con accesso da definire |
| MODELING AND RELIABILITY OF INNOVATIVE FLASH MEMORIES | 2009 | Padovani, Andrea | |
| Modeling NAND Flash memories for circuit simulations | 2007 | L., Larcher; Padovani, Andrea; I., Rimmaudo; P., Pavan; A., Calderoni; G., Molteni; F., Gattel; P...., Fantini | file con accesso da definire |
| Monte-Carlo Simulations of Flash Memory Array Retention | 2007 | Padovani, Andrea; L., Larcher; Chimenton, Andrea; P., Pavan | file con accesso da definire |
| Profiling charge distributions in NROM devices | 2006 | Padovani, Andrea; L., Larcher; P., Pavan | file con accesso da definire |
| Statistical Methodologies for Integrated Circuits Design | 2007 | Padovani, Andrea; Chimenton, Andrea; Olivo, Piero; Fantini, P; Vendrame, L; Mennillo, S. | file con accesso da definire |
| Temperature Monitor: a New Tool to Profile Charge Distribution in NROM Memory Devices | 2006 | L., Avital; Padovani, Andrea; L., Larcher; I., Bloom; R., Arie; P., Pavan; B., Eitan | file con accesso da definire |