PADOVANI, Andrea

PADOVANI, Andrea  

Dipartimento di Ingegneria (attivo dal 01/01/1997 al 30/09/2012)  

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Titolo Data di pubblicazione Autore(i) File
Dielectric reliability for future logic and Non-Volatile Memory applications: a statistical simulation analysis approach 2007 Padovani, Andrea; L., Larcher; Chimenton, Andrea; P., Pavan; Olivo, Piero file con accesso da definire
Hole Distributions in Erased NROM Devices: Profiling Method and Effects on Reliability 2008 Padovani, Andrea; L., Larcher; P., Pavan file con accesso da definire
Hole Distributions in NROM Devices: Profiling Technique and Correlation to Memory Retention 2007 Padovani, Andrea; L., Larcher; P., Pavan file con accesso da definire
Id-Vgs Based Tools to Profile Charge Distributions on NROM Memory Devices 2007 Padovani, Andrea; L., Larcher; P., Pavan; L., Avital; I., Bloom; B., Eitan file con accesso da definire
MODELING AND RELIABILITY OF INNOVATIVE FLASH MEMORIES 2009 Padovani, Andrea
Modeling NAND Flash memories for circuit simulations 2007 L., Larcher; Padovani, Andrea; I., Rimmaudo; P., Pavan; A., Calderoni; G., Molteni; F., Gattel; P...., Fantini file con accesso da definire
Monte-Carlo Simulations of Flash Memory Array Retention 2007 Padovani, Andrea; L., Larcher; Chimenton, Andrea; P., Pavan file con accesso da definire
Profiling charge distributions in NROM devices 2006 Padovani, Andrea; L., Larcher; P., Pavan file con accesso da definire
Statistical Methodologies for Integrated Circuits Design 2007 Padovani, Andrea; Chimenton, Andrea; Olivo, Piero; Fantini, P; Vendrame, L; Mennillo, S. file con accesso da definire
Temperature Monitor: a New Tool to Profile Charge Distribution in NROM Memory Devices 2006 L., Avital; Padovani, Andrea; L., Larcher; I., Bloom; R., Arie; P., Pavan; B., Eitan file con accesso da definire