FIEGNA, Claudio
FIEGNA, Claudio
Dipartimento di Ingegneria (attivo dal 01/01/1997 al 30/09/2012)
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| Titolo | Data di pubblicazione | Autore(i) | File |
|---|---|---|---|
| Modeling the effects of traps on the IV-characteristics of GaAs MESFETs | 1995 | Fiegna, C; Filicori, F; Vannini, G; Venturi, F | file con accesso da definire |