Sfoglia per Autore  OLIVO, Piero

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Titolo Data di pubblicazione Autore(i) File
Hot Electrons in MOS Transistors: Lateral Distribution of the Trapped Oxide Charge 1982 C., Lombardi; Olivo, Piero; B., Ricco'; E., Sangiorgi; M., Vanzi file con accesso da definire
Electron trapping/detrapping within thin SiO2 films in the high field tunneling regime 1983 Olivo, Piero; B., Ricco'; E., Sangiorgi file con accesso da definire
Two-Dimensional Effects in Hot-Electron Modified MOSFET's 1983 C., Lombardi; Olivo, Piero; B., Ricco'; E., Sangiorgi; AND M., Vanzi file con accesso da definire
Transient Current Response in Pd-SiO2-Si Structures During Hydrogen Absorption and Desorption 1985 A., D'Amico; G., Fortunato; W., Ruihua; B., Ricco'; Olivo, Piero file con accesso da definire
Hot-Electrons and -Holes in MOSFETs Biased Below the Si-SiO2 Interfacial Barrier 1985 Sangiorgi, E.; Ricco, B.; Olivo, P. file con accesso da definire
Quantum Effects in Accumulation Layers of Si-SiO2 Interfaces in the WKB Effective Mass Approximation 1985 E., DE CASTRO; Olivo, Piero file con accesso da definire
High-Field-Induced Voltage-Dependent Oxide-Charge 1986 Olivo, Piero; B., Ricco'; E., Sangiorgi file con accesso da definire
Space-Charge Limitations of Tunneling Resonances 1986 B., Ricco'; Olivo, Piero file con accesso da definire
A new failure mode of very thin (< 50 A) Thermal SiO2 Films 1987 T. N., Nguyen; Olivo, Piero; B., Ricco' file con accesso da definire
Evidence of the Role of Defects Near the Injecting Interface in Determining SiO2 Breakdown 1987 Olivo, Piero; B., Ricco'; T. N., Nguyen; T. S., Kuan; S. J., Jeng file con accesso da definire
Low-Frequency Noise in Silicon-Gate Metal-Oxide-Silicon Capacitors Before Oxide Breakdown 1987 B., Neri; Olivo, Piero; B., Ricco' file con accesso da definire
Oxide Thickness Determination in Thin Insulator MOS Structure 1988 B., Ricco'; Olivo, Piero; T. N., Nguyen; T. S., Kuan; G., Ferriani file con accesso da definire
High-Field-Induced Degradation in Ultra Thin SiO2 Films 1988 Olivo, Piero; Nguyen, T. N.; Ricco', B. file con accesso da definire
An Analytical Model for the Aliasing Probability in Signature Analysis Testing 1989 M., Damiani; Olivo, Piero; M., Favalli; B., Ricco' file con accesso da definire
Novel Design for Testability Schemes for CMOS ICs 1990 M., Favalli; Olivo, Piero; M., Damiani; B., Ricco' file con accesso da definire
Aliasing in Signature Analysis Testing with Multiple-Input Shift-Registers 1990 M., Damiani; Olivo, Piero; M., Favalli; S., Ercolani; B., Ricco' file con accesso da definire
Testing of E2PROM Aging and Endurance: a Case Study 1990 M., Lanzoni; R., Menozzi; Olivo, Piero; B., Ricco'; A., Haardt file con accesso da definire
Correlated Fluctuations and Noise Spectra of Tunneling and Substrate Currents Before Breakdown in Thin-Oxide MOS Devices 1990 R., Saletti; B., Neri; Olivo, Piero; A., Modelli file con accesso da definire
Advanced spice-like modeling of E2PROM cells 1991 M., Lanzoni; J., Sune'; C., Riva; P., Ghezzi; Olivo, Piero; B., Ricco' file con accesso da definire
Fault Simulation for General FCMOS ICs 1991 M., Favalli; Olivo, Piero; F., Somenzi; B., Ricco' file con accesso da definire
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